研究人员在使用双脉冲技术研究材料时，X射线会从材料中散射出来，通常一次只能检测到一个光子，光子产生散斑图案代表样品在某一时刻的精确配置，通过比较每对脉冲的散斑图案来计算样本的波动。传统方法需要收集所有数据，再使用模型进行分析，而机器学习方法使用散射光子的原始探测器图像直接提取波动信息，与改进的硬件结合使用时速度提高了100倍，从而可近乎实时地进行数据分析。事实证明，即使在非常斑点的条件下，该方法也是准确的。

信息来源：

https://www6.slac.stanford.edu/news/2022-11-07-artificial-intelligence-deciphers-detector-clouds-accelerate-materials-research